Teste de surto, também conhecido como teste de tensão transitória ou teste de impulso de raios, que usam para simular o raio ou outros impulsos de tensão transitória que o equipamento elétrico pode experimentar durante a operação normal. O objetivo do teste de surto é avaliar a tolerância do equipamento elétrico a esses impulsos.
O teste de surto é um dos meios importantes para garantir a operação estável de equipamentos eletrônicos sob extrema interferência eletromagnética. Ao selecionar o método e o equipamento de teste apropriados, a capacidade de tolerância do equipamento pode ser avaliada com precisão quando estiver sujeita a mudanças repentinas de tensão, o que fornece um forte suporte para a pesquisa e desenvolvimento, produção e controle de qualidade do equipamento. Com o desenvolvimento contínuo da tecnologia eletrônica, ele também continuará melhorando e otimizando, para fornecer uma garantia mais sólida para a estabilidade e confiabilidade dos equipamentos elétricos e eletrônicos.
Gerador de teste de surtoé baseado no padrão internacional IEC/EN 61000-4-5.
O padrão internacional IEC 61000-4-5 define as formas de onda usadas paraTeste de surto.
Um pulso de onda típico possui uma forma de onda de tensão de 1,2/50μs e uma forma de onda de corrente de 8/20μs, o que significa que a tensão atinge seu pico em 1,2 microssegundos e decai para metade desse valor em 50 microssegundos, enquanto a corrente atinge seu pico em 8 microssegundos e decaimentos à metade em 20 microsseconos.
1,2/50μs de forma de onda
1.2/50μS Onda de tensão de circuito aberto: simula cenários como transientes de comutação do sistema de energia e transientes de raios. Essa forma de onda é usada principalmente para testar a porta da fonte de alimentação de equipamentos de comunicação e linhas de sinal na construção da fiação.
Forma de onda 8/20μS
8/20μS Corrente de curto-circuito onda: simulando o cenário de raios induzidos. A forma de onda padrão para testar o nível de tolerância de sobrecorrente de raio é usada principalmente para testar a porta de energia, a porta de sinal e o porto de antena de equipamentos de comunicação.
Diagrama de circuito
1.2/50μs e 8/20μs onda combinada: uma saída de forma de onda por um gerador de surto com características específicas de abertura/curto -circuito. Quando o gerador produz um circuito aberto, a forma de onda de saída é uma onda de tensão de circuito aberto de 1,2/50US; Quando o gerador produz um curto-circuito, a forma de onda de saída é uma onda de corrente de curto-circuito de 8/20us. Essa forma de onda testa principalmente a extremidade da fonte de alimentação do equipamento de comunicação e o teste da linha de sinal da fiação dentro dos edifícios.
Outra onda combinada para testes de surto é10/700μs, 5/320μs para teste de telecomunicações/linha de dados.
10/700μs de forma de onda
5/320μS de forma de onda
Onda de tensão de 10/700μs: Ao simular relâmpagos, hastes de raios, árvores grandes e edifícios próximos, fortes alterações de campo magnético serão geradas no espaço circundante. Este campo magnético pode induzir tensão e corrente em linhas de comunicação próximas e outros condutores. O tempo de antecedência da onda de sobretensão induzida de relâmpago ou tensão de circuito aberto de sobrecorrente é de 10μs, e o tempo de pico de tensão de circuito aberto é de 700μs. A principal faixa de teste dessa forma de onda é o teste da linha de sinal para a fiação externa dos edifícios.
Diagrama de circuito
Métodos de teste
1. Use um gerador de surto e defina o modo de teste necessário (forma de onda de surto), tensão, fase, acoplamento, intervalo, contagens de teste e outros parâmetros.
2. Abra o osciloscópio e conecte a sonda diferencial (usada para monitorar a tensão da forma de onda de saída, tensão residual, etc. nas duas extremidades da amostra).
3. Abra o osciloscópio e conecte a sonda atual (usada para monitorar a corrente da forma de onda de saída).
3. Instale a EUT (amostra de teste) no acessório fixo.
4. Clique no botão Iniciar do gerador de surto e conduza os testes.
5. Registre os dados do teste e analise -os.
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